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光學涂鍍膜克重檢測系統

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光學涂鍍膜克重檢測系統
光學涂鍍膜克重檢測系統
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美國L&M光學涂鍍膜在線檢測系統

工作原理

    涂布(鍍膜)產品厚度的縱向、橫向均勻度是其重要質量和技術指標。涂布(鍍膜)產品的光密度( 光密度 = LOG(1/透過率))和涂布量(鍍層)厚度或克重成正比例關系,涂布層(鍍層)厚度越厚或越重,光密度值越大,透過率越低。所以通過測量涂布(鍍膜)產品的光密度可以監控涂布層(鍍膜層)的厚度或克重。

光學密度(厚度或克重)檢測系統,適用于各類涂布(鍍膜)產品實驗室檢驗與生產線實時監測,通過選擇監控產品的可見光透過率,紅外線透過率和光密度值(OD),來達到檢測和分析產品鍍層(涂層)厚度,鍍層厚度的均勻性等性能是否在工藝要求之內,在線監測系統更可以幫助操作人員及時了解產品質量,如有問題,即早發現并調整工藝,提高產品品質,降低產品的廢品率。

典型應用

    金屬鍍膜、薄膜涂層、紡織涂層、無紡布涂層厚度檢測;玻璃片、薄膜透光率檢測;液體霧度檢測等。
① 各種菲林膠片,可測絕對光密度,相對光密度,網點面積率。
② X光片,鋁膜等材料的光密度測量,測量絕對光密度。
③ 適用于膠片,花紋玻璃,霧狀玻璃,吸頂燈罩,鍍膜材料等光密度和透光率測試。
④ 水洗嘜,水洗標,涂層布的光密度以及透光率檢測。

 

5、儀器特點

 一體化設計,結構簡單,現場安裝維護方便。 

 防塵設計

   對于鍍膜過程中的粉塵(如鍍鋁過程)會影響測量光學系統,該系統采用防

塵設計,粉塵不會影響光學系統內部。

 結構簡單,性價比高,USB2.0的綜合設計適用于科學以及工業的所有應用。

 自動增益控制系統可產生光學密度值,光學密度值在0.00到4.00之間,精準度為±2.5%或整個量程的±1%。

 堅硬的工業設計以及防塵的外殼結構能夠適用于惡劣的環境下。

 工作功率低至每個儀器150mA,同時也能夠運用多個設備進行簡單的多通道檢測。

 硅二極管的敏感性在350nm到1100nm之間,900nm的時候很靈敏。

 實時的數據記錄功能。

 軟件包程序提供了一系列的功能。

 

6、儀器參數

 測試波長:350nm到1100nm之間(可調),初始值默認為500nm。

 透過率測量精度:±2.5%

 透過率分辨率:0.005%;

 光密度測量范圍:0.00 OD --- 4.00 OD

 光密度的分辨率:

0.1 光密度范圍: 0.00 - 3.00 OD

0.5 光密度范圍: 3.00 - 4.00 OD

 最大測量點數:12點

 相鄰探測頭之間距離:最小 70mm

 發射接收探頭之間距離:20mm

 溫度范圍: -40°C --- +85°C

 數據刷新周期:300ms

? 通訊:RS232,USB




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